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JTAG测试技术
作者：
       

2004年11月

JTAG Technology
    JTAG(联合测试行动组)标准在80代是通用的。JTAG技术实际上称之为IEEE1149.1或边界扫描，由于电子行业几乎每个人都熟悉“JTAG”这个名称，所以“JTAG”用来表示IEEE1149.1技术。

    电路内测试器
    测试复杂板的老方法是用电路内测试器(ICT)。这种测试方法的测试头是用“钉床”(见图1)，焊节点和遮盖的焊球使得这种测试头变得不现实。而且ICT方法成本高、开发时间长、需要专门硬件。现在，高密度板，多层印刷电路板(PCB)带焊节点和带遮盖焊球的BGA封装，使得测试非常困难。

    JTAG测试技术
    JTAG技术意指每个器件引脚的测试点都建在芯片内并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试(见图2)。这种测试技术特点是：
5-Wire串行总线是：
TDI-测试时钟；
TMS-测试模式信号；
/TRST-测试复位信号；
TDO-测试串行数据输出。
    此总线提供到芯片中JTAG电路的存取功能。在IC上增加JTAG(图3)允许插入到引脚和内部节点。图中BSC是边界扫描单元寄存器，TAP是测试接入口。
JTAG通过“扫描链”(Scan Chain)连接到PC板(图4)。串行数据输入/输出做成通过所有芯片的大环路。所有芯片区共享时钟、模式和复位信号。TCLK、TMS和TRST引脚并联连接。
    所有芯片由来自PC的TMS信号、TCLK信号(通常用时钟缓冲器驱动多负载)和TRST信号驱动。
TDI和TDO信号菊链在一起：
PC→芯片1 TDI
芯片1 TDO→芯片2 TDI
芯片2 TDO→芯片3 TDI
芯片3 TDO→芯片4 TDI
......
芯片N-1 TDO →芯片n TDI
芯片N TDO→PC

    互连故障测试
    JTAG的1个主要应用是检查板互连完整性。JTAGL边界扫描单元(BSC)可以检测开路和短路(见图5)。从1个芯片的BSC发送数据，并由另1个芯片的BSC接收。边界扫描单元允许被驱动引脚以专门数值(1或0)或数据送到捕获引脚。经过JTAG 5-Wire 串行总线的数据驱动芯片，来自1个芯片的1和0可以被连接这些信号的任何芯片驱动、输出和捕获。用这种方式可以执行所有芯片间的“连接性测试”，以便发现故障(如不好的焊结，短路等)。
    JTAG互连完整性测试是在低速单端TTL信号传输年代开发的。而LVDS(低压差分信号传输)用很低摆幅在两线和并行终端传输信号，这比TTL信号传输快很多倍。这使得测试LVDS互连变得更复杂和困难(图6)。这需要1个新的JTAG兼容的方法来测试高速互连。

    高速内装自测试
    为了在BUS LVDS上实现测试高速互连，NS公司给出高速内装自测试(BIST)解决方案。在系统时钟速度(即高速)，串行器/发送器发送固定随机比特序列(PRBS)，见图7。PRBS是内装在串行器中的伪随机比特序列图形。此图形是硬连线到芯片中，是固定图形。通过串行JTAG总线，当串行器和解串器接到“RUNBIST”指令时，串行器将以额定的系统时钟速度发送固定的PRBS图形到解串器。此时钟不是JTAG总线的TCLK，串行器/解串器的额定时钟范围为16~80MHz。
    解串器接收固定的PRBS图形并与它本身的硬连接图形比较，并告知是否有错误(见图。通过JTAG总线可以读出“PASS/FALL”和测试“COMPLETE/NOT-COMPLETE”结果。“PAST”结果意味着在指定的系统时钟速度，对于典型的数据图形其高速LVDS互连工作具有很高的置信度，表明互连“OK”。
    这种PRBS高速BIST可以检测所有可能的LVDS故障。表1列出NS公司在实验室进行的故障检测结果。注意在30MHz，互连实际上未通过所需的终端电阻器，但是这对于高速BIST不是问题。
    这种PRBS高速BIST方法在样机/调试期间检查链路错误也是有用的。

    系统内JTAG测试器
    用户用NS公司的SCANSTA101嵌入式JTAG Test Master可建造1个嵌入式测试器。SANSTA101与微控制器(或微处理器)和存储器结合可嵌入系统中使系统执行自诊断和重新配置。SCANSTA101是微控制器或微处理器与串行JTAGA总线之间的接口。它驱动JTAG总线并卸载处理器或控制器的一些工作。
NS公司提供SCANEASE软件和SCANSTA101  ANSI C驱动程序，这使SCASTA 101软件开发变得容易。
    系统内JTAG测试器可用于系统自测试，系统重新配置，远程诊断和升级(通过电话线)。

    JTAG技术应用
    前面重点讨论JTAG在互连完整性测试中的应用，JTAG应用不仅仅限于板测试，还有其他应用。JTAG测试应用概括为：
板互连“连续性”测试；
片上测试：内部功能块测试，内装自测试(BIST)；
编程FPGA和闪存；
仿真；
全系统级测试；
系统诊断和重新配置：嵌入到系统中或通过电话线远程实现。(冰)

winme

楼上贴这个干什么？
借地方放东西？

sz_scott

金鹏飞 JTAG 边界扫描测试平台助力 JTAG 测试行业应用推广

  

随着通讯电子技术发展，芯片、单板、系统的复杂度不断提高，体积不断缩小，测试的难度、成本、周期都在急剧增加，边界扫描测试技术就是在这种背景下应运而生的，并成为业界最成熟的DFT技术。

金鹏飞科技经过不懈努力，自主开发了金鹏飞 JTAG 边界扫描测试系统平台。该产品符合电气电子工程协会IEEE1149.1标准，可应用于产品设计、原型调试、生产测试、现场安装、维修服务等产品生命周期的全过程，实现无夹具测试技术，对降低测试难度、提高测试质量、提高产品故障定位能力等各个方面都有重大意义。

金鹏飞 JTAG 边界扫描测试系统平台软件全中文界面，支持WINDOWS NT/2000/XP，自动化程度高，操作便捷。同时金鹏飞JTAG边界扫描测试平台以下一代测试平台为目标，产品功能特色显著：提供开发调试、小批量验证、批量生产和市场服务的综合解决方案；集成电路板级/系统级工艺测试诊断、ISP编程、开发调试功能；提供开放的工业级标准脚本开发语言；提供多功能非BS扩展测试；提供文档锁定功能；支持逻辑功能自学习功能；兼容各种标准数据接口等。

以金鹏飞 JTAG 边界扫描测试系统平台为基础，金鹏飞科技相继推出了电信类产品、高密度类产品、高可靠性类产品、终端类产品、定制类产品 JTAG 边界扫描测试方案，协助客户提高测试效能。

  
JTAG 边界扫描测试系统平台功能
◆JTAG 扫描链路分析测试

◆BS器件安装检查

◆电路板DFT设计检查

◆电路板工艺互连测试

◆故障定位诊断

◆非BS扩展测试

◆物理接口测试

◆电路板可靠性验证

◆CLUSTER逻辑功能验证

◆ASIC芯片功能验证

◆信号采样调试

◆CPU读写调试

◆FLASH加载

◆存储器测试

◆FPGA/EPLD编程

bones7456

唉，没见过Xbox啊！

cxjtagcom

诚迅边界扫描科技有限公司经过多年的努力，开发出业界最快的FLASH在板编程技术。编程1MByte文件，仅需要50秒钟。达到边界扫描技术加载的原理性极限。详情请查阅www.cxjtag.com。
利用JTAG技术实现FLASH加载是一种新的在板编程技术。一般而言，电路板上的FLASH芯片本身不带有边界扫描（BS）结构，但是FLASH的周围存在BS器件，从而可以利用周围的BS器件（一般为CPU）实现FALSH加载。利用BS技术（也称为JTAG技术）进行对是一种新的有效的编程方式。
FLASH器件的编程方式分为两大类：在板编程（OBP，On_Board Programming）和离板（Off_Board）编程。
离板编程是指在FLASH器件被安装到PCB之前对其进行编程。这一般是采用编程器来完成的，常见的编程器有ALL-07、ALL-11等。
在板编程是指在FALSH器件被焊接到PCB上以后对其进行编程。常见的方法有利用ICT进行在线编程（ICP）、利用CPU进行的系统编程（ISP）个苦头HTAG进行的在板编程（OBP）等。在线编程ICP（In_Circuit Programming）或ILDP（In_Line Device Programming）是指同年国国ICP夹具把ICT设备的测试通道连接到PCB上FLASH器件的各个管脚，把PCB上和FLASH器件相连的其它器件进行电器隔离，直接对FLASH器件进行编程。可以在ICT测试的同时完成FLASH器件的编程，但是在PCB设计时必须保证FALSH器件的每一个管脚设计ICT测试点，而且需要占用单板的ICT测试时间。ICT加载FLASH适宜在单板量产时采用，速度比较快，生产效率比较高。但是采用ICT加载FLASH需要占用昂贵的ICT设备资源，而且在单板开发阶段单板没有ICT，测试时无法采用，也不适宜现场维护与升级。
系统编程ISP（In-System Programming）是指通过系统上的CPU来执行FLASH器件的擦除和编程算法来实现FLASH器件的编程。这种方式要求CPU能够正常工作，并且需要提供额外的网口、串口等硬件接口进行软件下载。
利用BS技术的在板编程既不需要占用额外的设备，也不需要产品增加额外的硬件，它只需要将相关的BS器件连成一条扫描链，并将边界扫描接口引出来即可。采用JTAG加载FLASH可以削减物料成本，从而又减少产品的不稳定因素。它能够支持产品整个生命周期的应用。